標(biāo)準(zhǔn)氙燈耐候測(cè)試箱用途模擬全光譜太陽(yáng)光
標(biāo)準(zhǔn)氙燈耐候測(cè)試箱用途的用途
模擬關(guān)鍵的短波紫外線(xiàn),真實(shí)地再現(xiàn)由陽(yáng)光造成的物理性能損傷。 損傷類(lèi)型包括褪色、光澤消失
標(biāo)準(zhǔn)氙燈耐候測(cè)試箱用途的型號(hào)：
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