GB2423是對電工電子產(chǎn)品的基本環(huán)境試驗(yàn)所作的規(guī)定

　　GJB150是對軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法所作的規(guī)定

　　GJB360是對軍用電子及電氣元器件試驗(yàn)方法所作的規(guī)定

　　GJB548是對軍用微電子器件試驗(yàn)方法所作的規(guī)定

　　GJB128A-97《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》

　　GJB150.16-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法振動(dòng)試驗(yàn)》

　　MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》

　　GJB367.2-87《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件》

　　GJB360A-96電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法214隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)

　　MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》

　　GJB367A-2001《軍用通信設(shè)備通用規(guī)范》4.7.38振動(dòng)

　　GJB4.7-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)振動(dòng)試驗(yàn)》

　　GJB548A-96《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》

　　MIL-STD-883D《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》

　　GB/T2423.10-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則：振動(dòng)（正弦）》

　　GB/T2423.11-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分：試驗(yàn)方法：試驗(yàn)Fd：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—-一般要求

　　GB/T2423.12-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fda：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--高再現(xiàn)性

　　GB/T2423.13-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fdb：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--中再現(xiàn)性

　　GB/T2423.14-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fdc：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)--低再現(xiàn)性

　　SJ/T10325-92《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》5.1掃頻振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)

　　GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》

RTCA/DO-160E機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn)方法　

本文來自東莞市艾思荔檢測儀器有限公司